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半圓階梯試塊 GB/T18852-2002
簡(jiǎn)要描述：GB/T18852-2002無(wú)損檢測 超聲檢測測量接觸探頭聲束特性的參考試塊本標準推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。HS半圓階梯試塊(HS試塊)，使用時(shí)應將試塊置于適當的木架上，作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
產(chǎn)品型號：HS- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間：2024-04-15
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詳情介紹
GB/T18852-2002無(wú)損檢測 超聲檢測測量接觸探頭聲束特性的參考試塊
本標準推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。本標準為接觸探傷中使用的探頭在固體內產(chǎn)生的聲場(chǎng)提供了測定方法。本標準適用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測定。本標準適用的探頭頻率范圍為1MHz-15MHz。1MHz-15MHzzui適宜于對鋼鐵產(chǎn)品的檢測，5MHz-15MHzzui適宜于對像鋁合金之類(lèi)的細晶粒結構產(chǎn)品的檢測。
1、 HS半圓階梯試塊（HS試塊），使用時(shí)應將試塊置于適當的木架上，作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
2、 SHD橫孔試塊，僅在用試塊調整縱波直探頭探傷靈敏度時(shí)候才使用?？v波直探頭探傷允許采用Φ3、Φ4、Φ6當量平底孔三種靈敏度。
產(chǎn)品關(guān)鍵字：HS半圓階梯試塊（HS試塊），SHD橫孔試塊
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