缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng) 件號：519630 型號：KSC-230 件號：521048 型號：KSC-430 說(shuō)明：標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸

與KSC-230相似，于工件上的小區域，每片四個(gè)圓，可切割開(kāi)，單獨使用 件號：519631 型號：KSC-4-230 說(shuō)明：小型I試片，每片試片有4個(gè)基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸

不同深度的I試片 用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán) 型號：KSCT-234 說(shuō)明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上。

型號：KSC4-234 不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸

八角試塊 檢測鐵金屬的缺陷時(shí)，八角試塊有助于確定磁場(chǎng)強度的方向。

磁粉試棒 在兩個(gè)方向上有粗細不一的人工表面和次表面缺陷滿(mǎn)足和超過(guò)大部分工業(yè)和軍用對于人工試片的標準，包括MIL-STD-271